基于遺傳算法相位抖動優(yōu)化的高質(zhì)量二值條紋產(chǎn)生方法
作者：蔡寧; 陳浙泊; 林斌; 曹向群 浙江大學現(xiàn)代光學儀器國家重點實驗室國家光學儀器工程技術(shù)研究中心; 杭州310027; 浙江大學臺州研究院; 浙江臺州318000
摘要：采用遺傳算法在相位域?qū)Χ秳铀惴óa(chǎn)生的二值條紋圖案進行優(yōu)化,同時,為了解決遺傳算法的耗時問題,用對二值塊的優(yōu)化來代替整個條紋圖案的優(yōu)化.實驗結(jié)果表明:本文方法對不同離焦量具有魯棒性,能極大改善抖動算法的測量質(zhì)量;在輕度離焦、中度離焦和重度離焦的情況下,相位均方根誤差分別由1.493,1.209,0.989rad,減小到0.972,0.749,0.603rad.
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