SoC嵌入式存儲器內(nèi)建自修復(fù)方法
作者：秦盼; 王健; 朱芳; 焦貴忠 北方通用電子集團有限公司; 安徽蚌埠233030; 中國人民解放軍駐9373廠軍事代表室; 安徽蚌埠233030
摘要：嵌入式存儲器的內(nèi)建自測試及修復(fù)是提高SoC芯片成品率的有效辦法。詳細描述了存儲器良率的評估方法,提出了一種基于Mentor公司Tessent工具的存儲器修復(fù)結(jié)構(gòu)。該結(jié)構(gòu)采用了冗余修復(fù)及電可編程熔絲eFuse硬修復(fù)的方法,具有很好的通用性及可行性,已多次應(yīng)用在實際項目中。
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