摘要：側(cè)向類儀器關(guān)于監(jiān)督電極電位差信號測量方式是通過取樣電阻、前置放大電路、主放大器、濾波電路、相敏檢波電路和模數(shù)轉(zhuǎn)換電路組成，構(gòu)成一個測量通道，放大倍數(shù)達到上萬倍，接近電路設計的極限。陣列側(cè)向儀器的分辨率取決于上下監(jiān)督電極中心距L，L越小儀器縱向分辨率越高，要求儀器的屏流比就越大，這就導致測量信號幅度變的非常微弱，達到微伏級，基本上會湮沒于電路板上的工頻噪聲和其它干擾成分中，因此高分辨陣列側(cè)向測井儀器中對監(jiān)督電極電位差微弱信號的有效檢測決定著整支儀器的檢測精度，監(jiān)督電極電位微弱信號檢測性能的好壞成為高分辨率陣列側(cè)向?qū)崿F(xiàn)0.3m高分辨率的關(guān)鍵。針對高分辨率陣列側(cè)向儀器中微弱信號難于精確采集的特點，提出了一種新的精確采集設計方法，已成功用于儀器調(diào)試和現(xiàn)場試驗中。