摘要：根據(jù)X射線照相曝光曲線的技術(shù)特點(diǎn),形成了X射線照相技術(shù)的檢測(cè)參數(shù)系統(tǒng)全景設(shè)計(jì)。在全景設(shè)計(jì)圖上可以進(jìn)行設(shè)備的選用及性能比較,確定具體的透照參數(shù),預(yù)設(shè)底片黑度結(jié)果,明確具體工藝的影像清晰度。提出了'球錐場(chǎng)'與'圓錐場(chǎng)'結(jié)合的分析方法,以全景設(shè)計(jì)圖為基礎(chǔ)可以開(kāi)發(fā)檢測(cè)參數(shù)分析軟件,實(shí)現(xiàn)不同厚度工件的組合檢測(cè)。