SiO2納米線中拉曼光譜的理論研究
作者：曹娟 張兆慧 徐燦 江蘇省宿遷學院基礎部 宿遷223800 蘭州大學磁學與磁性材料教育部重點實驗室 蘭州730000
摘要：運用密度泛函理論，在6-31G（d）基組水平上，對二元環(huán)組成的SiO2單鏈、雙鏈納米線進行幾何優(yōu)化，并對其拉曼振動頻率進行計算。結果發(fā)現(xiàn)，在兩種鏈狀結構的拉曼光譜中，拉曼頻移和強度隨尺寸的增加單調(diào)變化，存在納米體系中的尺寸效應與各向異性現(xiàn)象。雙鏈兩端Si=O的伸縮振動尺寸效應的依賴性大于單鏈。
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