摘要：[目的]探討春大豆與低溫脅迫有關的光合參數(shù)以及種質(zhì)與低溫之間的相關性。[方法]以5個春大豆品種的幼苗為試驗材料,用葉綠素熒光測定儀測定低溫脅迫后的葉綠素含量。[結果]5個春大豆品種的Fv(樣品可變熒光)/Fm(樣品最大熒光產(chǎn)量)和qP(光化學淬滅系數(shù))均顯著降低;與室溫對照相比,F 0(初始熒光)和qN(非光學淬滅系數(shù))在低溫脅迫下顯著增加。與其他品種相比,骨粒青的F o和qN均顯著增大而Fv/Fm顯著降低,qP下降但仍處于高水平。43號的F o增加最少。95-1的Fv/Fm最高,但qP最低。南農(nóng)513的qN增加最少,屬于低溫敏感型材料。光氧化(qN)是引起南農(nóng)513損傷的主要原因,而qP和qN反映出骨粒青能在低溫下繼續(xù)光合作用進行生長,以減少光氧化帶來的損傷。[結論]qP和qN是用來評估大豆的低溫抗性指標的較可靠的光合參數(shù)。