摘要：為了糾正輻射環(huán)境中的高能粒子對(duì)存儲(chǔ)器造成的多位翻轉(zhuǎn),研究了一種矩陣糾錯(cuò)碼電路,對(duì)存儲(chǔ)器進(jìn)行有效的抗輻射加固。提出了一種矩形循環(huán)校驗(yàn)法構(gòu)造校驗(yàn)位,并設(shè)計(jì)了糾錯(cuò)碼的譯碼算法和相應(yīng)的譯碼電路。根據(jù)校驗(yàn)位構(gòu)造了檢測(cè)位。對(duì)數(shù)據(jù)的輸入順序進(jìn)行排列,確保了冗余位發(fā)生翻轉(zhuǎn)時(shí)糾錯(cuò)碼電路仍可以正常工作。在16位寬的碼字中,所研究的矩陣糾錯(cuò)碼可以糾正數(shù)據(jù)寬度為5位的多位翻轉(zhuǎn)。同目前已知的二維糾錯(cuò)碼在相同條件下進(jìn)行比較,其獲得了更高的平均失效時(shí)間。